Structural characterization of the temperature dependence of C60-thin films on mica (001) by X-ray diffraction
| Author: | Sascha HenkeGND, Karl-Heinz ThürerGND, Jörg K. N. Lindner, Bernd RauschenbachORCiD, Bernd StritzkerGND |
|---|---|
| Frontdoor URL | https://opus.bibliothek.uni-augsburg.de/opus4/20335 |
| Parent Title (English): | Journal of Applied Physics |
| Publisher: | AIP |
| Type: | Article |
| Language: | English |
| Year of first Publication: | 1994 |
| Release Date: | 2017/07/21 |
| Volume: | 76 |
| Issue: | 6 |
| First Page: | 3337 |
| Last Page: | 3340 |
| DOI: | https://doi.org/10.1063/1.357456 |
| Institutes: | Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät |
| Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik | |
| Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik / Lehrstuhl für Experimentalphysik IV |
