Imaging silicon by atomic force microscopy with crystallographically oriented tips
| Author: | Franz Josef Giessibl, Stefan HembacherGND, Hartmut BielefeldtGND, Jochen MannhartORCiDGND |
|---|---|
| Frontdoor URL | https://opus.bibliothek.uni-augsburg.de/opus4/62010 |
| ISSN: | 0947-8396OPAC |
| ISSN: | 1432-0630OPAC |
| Parent Title (English): | Applied Physics A |
| Publisher: | Springer Science and Business Media LLC |
| Type: | Article |
| Language: | English |
| Year of first Publication: | 2001 |
| Release Date: | 2019/09/20 |
| Tag: | General Materials Science; General Chemistry |
| Volume: | 72 |
| Issue: | S1 |
| First Page: | S15 |
| Last Page: | S17 |
| DOI: | https://doi.org/10.1007/s003390100627 |
| Institutes: | Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät |
| Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik | |
| Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik / Lehrstuhl für Experimentalphysik VI |
