Patent- und Markenschutz in China: Plagiarismus kann wohl nur sukzessiv ausgeräumt werden
Author: | Dennis-Kenji KipkerGND |
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Frontdoor URL | https://opus.bibliothek.uni-augsburg.de/opus4/112189 |
URL: | https://www.elektroniknet.de/messen-testen/plagiarismus-kann-wohl-nur-sukzessiv-ausgeraeumt-werden.169609.html |
Parent Title (German): | elektronik messen + testen |
Publisher: | WEKA Fachmedien |
Place of publication: | Haar |
Type: | Article |
Language: | German |
Year of first Publication: | 2019 |
Release Date: | 2024/04/08 |
Issue: | 27. September 2019 |
Edition: | Online-Ressource |
Institutes: | Juristische Fakultät |
Juristische Fakultät / Institut für Zivilrecht | |
Juristische Fakultät / Institut für Zivilrecht / Lehrstuhl für Bürgerliches Recht, Haftungsrecht und Recht der Digitalisierung |