Structural characterization of cubic and hexagonal GaN thin films grown by IBA–MBE on SiC/Si

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Metadaten
Author:Maik HäberlenGND, J. W. Gerlach, B. Murphy, J. K. N. Lindner, Bernd StritzkerGND
Frontdoor URLhttps://opus.bibliothek.uni-augsburg.de/opus4/123218
ISSN:0022-0248OPAC
Parent Title (English):Journal of Crystal Growth
Publisher:Elsevier BV
Place of publication:Amsterdam
Type:Article
Language:English
Year of first Publication:2010
Release Date:2025/07/17
Volume:312
Issue:6
First Page:762
Last Page:769
DOI:https://doi.org/10.1016/j.jcrysgro.2009.12.048
Institutes:Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät
Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik
Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik / Lehrstuhl für Experimentalphysik IV