Structural characterization of cubic and hexagonal GaN thin films grown by IBA–MBE on SiC/Si
Author: | Maik HäberlenGND, J. W. Gerlach, B. Murphy, J. K. N. Lindner, Bernd StritzkerGND |
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Frontdoor URL | https://opus.bibliothek.uni-augsburg.de/opus4/123218 |
ISSN: | 0022-0248OPAC |
Parent Title (English): | Journal of Crystal Growth |
Publisher: | Elsevier BV |
Place of publication: | Amsterdam |
Type: | Article |
Language: | English |
Year of first Publication: | 2010 |
Release Date: | 2025/07/17 |
Volume: | 312 |
Issue: | 6 |
First Page: | 762 |
Last Page: | 769 |
DOI: | https://doi.org/10.1016/j.jcrysgro.2009.12.048 |
Institutes: | Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät |
Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik | |
Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik / Lehrstuhl für Experimentalphysik IV |