Characterization of the near-interface region of chemical vapor deposited diamond films on silicon by backscatter Kikuchi diffraction
| Author: | Stephan GeierGND, Matthias SchreckORCiDGND, Rainer Hessmer, Bernd RauschenbachORCiD, Bernd StritzkerGND, K. Kunze, B. L. Adams |
|---|---|
| Frontdoor URL | https://opus.bibliothek.uni-augsburg.de/opus4/20339 |
| Parent Title (English): | Applied Physics Letters |
| Publisher: | AIP |
| Place of publication: | Melville, NY |
| Type: | Article |
| Language: | English |
| Year of first Publication: | 1994 |
| Release Date: | 2017/07/21 |
| Volume: | 65 |
| Issue: | 14 |
| First Page: | 1781 |
| Last Page: | 1783 |
| DOI: | https://doi.org/10.1063/1.112867 |
| Institutes: | Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät |
| Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik | |
| Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik / Lehrstuhl für Experimentalphysik IV |
