Texture analysis of CVD diamond films on silicon by the component method

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Metadaten
Author:K. Helming, Stephan GeierGND, Matthias SchreckORCiDGND, Rainer Hessmer, Bernd StritzkerGND, Bernd RauschenbachORCiD
Frontdoor URLhttps://opus.bibliothek.uni-augsburg.de/opus4/21633
Parent Title (English):Journal of Applied Physics
Publisher:AIP
Place of publication:Melville, NY
Type:Article
Language:English
Year of first Publication:1995
Release Date:2017/07/21
Volume:77
Issue:9
First Page:4765
Last Page:4770
DOI:https://doi.org/10.1063/1.359412
Institutes:Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät
Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik
Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik / Lehrstuhl für Experimentalphysik IV