Influence of strain on the electronic properties of epitaxial V2O3 thin films
Author: | H. Schuler, Stefan KlimmGND, Guido Weißmann, C. Renner, Siegfried R. HornORCiDGND |
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Frontdoor URL | https://opus.bibliothek.uni-augsburg.de/opus4/24947 |
Parent Title (English): | Thin Solid Films |
Type: | Article |
Language: | English |
Year of first Publication: | 1997 |
Release Date: | 2017/07/21 |
Volume: | 299 |
Issue: | 1-2 |
First Page: | 119 |
Last Page: | 124 |
DOI: | https://doi.org/10.1016/S0040-6090(96)09399-6 |
Institutes: | Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät |
Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik | |
Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Materials Resource Management | |
Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik / Lehrstuhl für Experimentalphysik II | |
Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Materials Resource Management / Lehrstuhl für Nachhaltige Materialien und Prozesse |