Stress distribution in thin heteroepitaxial diamond films on Ir/SrTiO3 studied by x-ray diffraction, Raman spectroscopy and finite element simulations

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Metadaten
Author:Matthias SchreckORCiDGND, H. Roll, J. Michler, E. Blank, Bernd StritzkerGND
Frontdoor URLhttps://opus.bibliothek.uni-augsburg.de/opus4/31969
Parent Title (English):Journal of Applied Physics
Publisher:AIP
Type:Article
Language:English
Year of first Publication:2000
Release Date:2017/07/21
Volume:88
Issue:5
First Page:2456
Last Page:2466
DOI:https://doi.org/10.1063/1.1287521
Institutes:Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät
Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik
Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik / Lehrstuhl für Experimentalphysik IV