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Stoichiometry and absolute atomic concentration profiles obtained by combined Rutherford backscattering spectroscopy and secondary-ion mass spectroscopy: InAs nanocrystals in Si

Helmut Karl, Ingo Großhans, Axel Wenzel, Bernd Stritzker, Ralph Claessen, Vladimir Strocov, G. E. Cirlin, V. A. Egorov, N. K. Polyakov, Yu. B. Samsonenko, D. V. Denisov, V. M. Ustinov, Zh. I. Alferov

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    Metadaten
    Author:Helmut KarlORCiDGND, Ingo GroßhansGND, Axel WenzelGND, Bernd StritzkerGND, Ralph ClaessenORCiDGND, Vladimir Strocov, G. E. Cirlin, V. A. Egorov, N. K. Polyakov, Yu. B. Samsonenko, D. V. Denisov, V. M. Ustinov, Zh. I. Alferov
    Frontdoor URLhttps://opus.bibliothek.uni-augsburg.de/opus4/35270
    Parent Title (English):Nanotechnology
    Type:Article
    Language:English
    Year of first Publication:2002
    Release Date:2017/07/21
    Volume:13
    Issue:5
    First Page:631
    Last Page:634
    DOI:https://doi.org/10.1088/0957-4484/13/5/318
    Institutes:Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät
    Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik
    Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik / Lehrstuhl für Experimentalphysik IV

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