Analyzing degradation effects of organic light-emitting diodes via transient optical and electrical measurements
| Author: | Tobias D. Schmidt, Lars Jäger, Yutaka Noguchi, Hisao Ishii, Wolfgang BrüttingORCiDGND |
|---|---|
| URN: | urn:nbn:de:bvb:384-opus4-399931 |
| Frontdoor URL | https://opus.bibliothek.uni-augsburg.de/opus4/39993 |
| ISSN: | 1089-7550OPAC |
| Parent Title (English): | Journal of Applied Physics |
| Publisher: | AIP |
| Place of publication: | Melville, NY |
| Type: | Article |
| Language: | English |
| Year of first Publication: | 2015 |
| Publishing Institution: | Universität Augsburg |
| Release Date: | 2018/08/28 |
| Volume: | 117 |
| Issue: | 21 |
| First Page: | 215502 |
| DOI: | https://doi.org/10.1063/1.4921829 |
| Institutes: | Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät |
| Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik | |
| Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik / Lehrstuhl für Experimentalphysik IV | |
| Dewey Decimal Classification: | 5 Naturwissenschaften und Mathematik / 53 Physik / 530 Physik |
| Licence (German): |  Deutsches Urheberrecht |
