Analyzing degradation effects of organic light-emitting diodes via transient optical and electrical measurements

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Metadaten
Author:Tobias D. Schmidt, Lars Jäger, Yutaka Noguchi, Hisao Ishii, Wolfgang BrüttingORCiDGND
URN:urn:nbn:de:bvb:384-opus4-399931
Frontdoor URLhttps://opus.bibliothek.uni-augsburg.de/opus4/39993
ISSN:1089-7550OPAC
Parent Title (English):Journal of Applied Physics
Publisher:AIP
Place of publication:Melville, NY
Type:Article
Language:English
Year of first Publication:2015
Publishing Institution:Universität Augsburg
Release Date:2018/08/28
Volume:117
Issue:21
First Page:215502
DOI:https://doi.org/10.1063/1.4921829
Institutes:Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät
Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik
Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik / Lehrstuhl für Experimentalphysik IV
Dewey Decimal Classification:5 Naturwissenschaften und Mathematik / 53 Physik / 530 Physik
Licence (German):Deutsches Urheberrecht