Analyzing degradation effects of organic light-emitting diodes via transient optical and electrical measurements
Author: | Tobias D. Schmidt, Lars Jäger, Yutaka Noguchi, Hisao Ishii, Wolfgang BrüttingORCiDGND |
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URN: | urn:nbn:de:bvb:384-opus4-399931 |
Frontdoor URL | https://opus.bibliothek.uni-augsburg.de/opus4/39993 |
ISSN: | 1089-7550OPAC |
Parent Title (English): | Journal of Applied Physics |
Publisher: | AIP |
Place of publication: | Melville, NY |
Type: | Article |
Language: | English |
Year of first Publication: | 2015 |
Publishing Institution: | Universität Augsburg |
Release Date: | 2018/08/28 |
Volume: | 117 |
Issue: | 21 |
First Page: | 215502 |
DOI: | https://doi.org/10.1063/1.4921829 |
Institutes: | Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät |
Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik | |
Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik / Lehrstuhl für Experimentalphysik IV | |
Dewey Decimal Classification: | 5 Naturwissenschaften und Mathematik / 53 Physik / 530 Physik |
Licence (German): | Deutsches Urheberrecht |