Unravelling concurring degradation mechanisms in InGaAlP light-emitting diode structures by optical overstress experiments under reverse bias

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Metadaten
Author:C. Karl, J. Ebbecke, R. Zeisel, Achim WixforthORCiDGND
Frontdoor URLhttps://opus.bibliothek.uni-augsburg.de/opus4/63506
ISSN:0021-8979OPAC
ISSN:1089-7550OPAC
Parent Title (English):Journal of Applied Physics
Publisher:AIP Publishing
Type:Article
Language:English
Year of first Publication:2013
Release Date:2020/05/09
Volume:114
Issue:22
First Page:223106
DOI:https://doi.org/10.1063/1.4848035
Institutes:Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät
Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik
Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik / Lehrstuhl für Experimentalphysik I