Effect of percolation on structural and electrical properties of MIC processed SiGe/Al multilayers
Author: | Marc Erik LindorfORCiDGND, H. Rohrmann, G. Span, Manfred AlbrechtORCiDGND |
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Frontdoor URL | https://opus.bibliothek.uni-augsburg.de/opus4/65159 |
ISSN: | 0361-5235OPAC |
ISSN: | 1543-186XOPAC |
Parent Title (English): | Journal of Electronic Materials |
Publisher: | Springer |
Place of publication: | Berlin [u.a.] |
Type: | Article |
Language: | English |
Year of first Publication: | 2015 |
Release Date: | 2019/11/19 |
Tag: | Electrical and Electronic Engineering; Materials Chemistry; Electronic, Optical and Magnetic Materials; Condensed Matter Physics |
Volume: | 45 |
Issue: | 3 |
First Page: | 1730 |
Last Page: | 1733 |
DOI: | https://doi.org/10.1007/s11664-015-4190-x |
Institutes: | Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät |
Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik | |
Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik / Lehrstuhl für Experimentalphysik IV |