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Stoichiometry and absolute atomic concentration profiles obtained by combined Rutherford backscattering spectroscopy and secondary-ion mass spectroscopy: InAs nanocrystals in Si

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Metadaten
Author:Helmut KarlORCiDGND, Ingo GroßhansGND, Axel WenzelGND, Bernd StritzkerGND, Ralph ClaessenORCiDGND, Vladimir Strocov, G. E. Cirlin, V. A. Egorov, N. K. Polyakov, Yu. B. Samsonenko, D. V. Denisov, V. M. Ustinov, Zh. I. Alferov
Frontdoor URLhttps://opus.bibliothek.uni-augsburg.de/opus4/35270
Parent Title (English):Nanotechnology
Type:Article
Language:English
Year of first Publication:2002
Publishing Institution:Universität Augsburg
Release Date:2017/07/21
Volume:13
Issue:5
First Page:631
Last Page:634
DOI:https://doi.org/10.1088/0957-4484/13/5/318
Institutes:Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät
Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik
Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik / Lehrstuhl für Experimentalphysik IV