Efficient numerical simulation of the liquid phase epitaxy
- Subject of this work is the numerical simulation of the liquid phase epitaxy, which is a critical step in the fabrication of infrared detectors. It consists of the growth of an epitaxial layer - a thin film - on top of a substrate with an approximate thickness of 20 microns. A physical model for the liquid phase epitaxy is derived. The focus of the modeling lies on the calculation of the thickness of the grown layer and its homogeneity, not on microscopic effects. Two different approaches with mathematical framework used for the numerical simulation of this free boundary problem are presented. For the discretization of the nonlinear system finite element methods with special extensions are used. Some aspects regarding stability and damping of numerical oscillations are considered. For an efficient solution of the resulting nonlinear algebraic system appropriate iterative solvers and preconditioning techniques are discussed. Finally, the reliability of the developed algorithms is shownSubject of this work is the numerical simulation of the liquid phase epitaxy, which is a critical step in the fabrication of infrared detectors. It consists of the growth of an epitaxial layer - a thin film - on top of a substrate with an approximate thickness of 20 microns. A physical model for the liquid phase epitaxy is derived. The focus of the modeling lies on the calculation of the thickness of the grown layer and its homogeneity, not on microscopic effects. Two different approaches with mathematical framework used for the numerical simulation of this free boundary problem are presented. For the discretization of the nonlinear system finite element methods with special extensions are used. Some aspects regarding stability and damping of numerical oscillations are considered. For an efficient solution of the resulting nonlinear algebraic system appropriate iterative solvers and preconditioning techniques are discussed. Finally, the reliability of the developed algorithms is shown and numerical results are presented. These results are discussed with respect to the validity of the underlying physical model.…
- Diese Arbeit beschäftigt sich mit der numerischen Simulation der Flüssigphasenepitaxie - einem kritischen Schritt bei der industriellen Herstellung von Infrarotdetektoren. Dabei wird ein dünner Film von ungefähr 20 Mikrometer Dicke, die Epitaxieschicht, auf ein Trägersubstrat aufgebracht. Es wird ein physikalisches Modell hergeleitet, das eine einfache Berechnung der Schichtdicke und der Zusammensetzung ermöglicht. Mikroskopische Effekte werden dabei vernachlässigt. Zwei unterschiedliche Ansätze zur Berechnung des freien Randwertproblems inklusive der mathematischen Rahmenbedingungen werden präsentiert. Zur Diskretisierung werden nichtlineare Finite-Elemente-Methoden mit einigen speziellen Erweiterungen verwendet und einige Aspekte bezüglich Stabilität und Dämpfung auftretender numerischer Oszillationen betrachtet. Um eine effiziente Lösung des entstehenden nichtlinearen algebraischen Systems zu gewährleisten, werden iterative Löser und Vorkonditionierungstechniken diskutiert.Diese Arbeit beschäftigt sich mit der numerischen Simulation der Flüssigphasenepitaxie - einem kritischen Schritt bei der industriellen Herstellung von Infrarotdetektoren. Dabei wird ein dünner Film von ungefähr 20 Mikrometer Dicke, die Epitaxieschicht, auf ein Trägersubstrat aufgebracht. Es wird ein physikalisches Modell hergeleitet, das eine einfache Berechnung der Schichtdicke und der Zusammensetzung ermöglicht. Mikroskopische Effekte werden dabei vernachlässigt. Zwei unterschiedliche Ansätze zur Berechnung des freien Randwertproblems inklusive der mathematischen Rahmenbedingungen werden präsentiert. Zur Diskretisierung werden nichtlineare Finite-Elemente-Methoden mit einigen speziellen Erweiterungen verwendet und einige Aspekte bezüglich Stabilität und Dämpfung auftretender numerischer Oszillationen betrachtet. Um eine effiziente Lösung des entstehenden nichtlinearen algebraischen Systems zu gewährleisten, werden iterative Löser und Vorkonditionierungstechniken diskutiert. Schließlich wird die Verlässlichkeit der numerischen Algorithmen überprüft und die numerischen Resultate vorgestellt. Auf der Basis dieser Ergebnisse wird die Gültigkeit des zugrunde liegenden physikalischen Modells diskutiert.…
Author: | Oliver Kriessl |
---|---|
URN: | urn:nbn:de:bvb:384-opus-1903 |
Frontdoor URL | https://opus.bibliothek.uni-augsburg.de/opus4/276 |
Title Additional (German): | Effiziente numerische Simulation der Flüssigphasenepitaxie |
Advisor: | Kunibert G. Siebert |
Type: | Doctoral Thesis |
Language: | English |
Publishing Institution: | Universität Augsburg |
Granting Institution: | Universität Augsburg, Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät |
Date of final exam: | 2006/02/01 |
Release Date: | 2006/06/29 |
Tag: | liquid phase epitaxy; free boundary problem; finite element method |
GND-Keyword: | Epitaxie; Kristallwachstum; Numerisches Verfahren; Diskretisierung; Modellierung; Nichtlineare Finite-Elemente-Methode; Freies Randwertproblem |
Institutes: | Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät |
Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Mathematik | |
Dewey Decimal Classification: | 5 Naturwissenschaften und Mathematik / 51 Mathematik / 510 Mathematik |