Strain and defect densities in Si/Si1-xGex heterostructures investigated by ion scattering and x-ray diffraction
| Author: | Bernd StritzkerGND |
|---|---|
| Frontdoor URL | https://opus.bibliothek.uni-augsburg.de/opus4/17213 |
| Parent Title (English): | Applied Surface Science |
| Publisher: | Elsevier |
| Place of publication: | Amsterdam |
| Type: | Article |
| Language: | English |
| Year of first Publication: | 1991 |
| Release Date: | 2017/07/21 |
| Volume: | 50 |
| Issue: | 1-4 |
| First Page: | 450 |
| Last Page: | 455 |
| DOI: | https://doi.org/10.1016/0169-4332(91)90216-7 |
| Institutes: | Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät |
| Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik | |
| Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik / Lehrstuhl für Experimentalphysik IV |
