Measurement and modelling of the radiation damage of silicon by MeV Ag ions

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Metadaten
Author:Jörg K. N. Lindner, Johann Eder, Bernd StritzkerGND
Frontdoor URLhttps://opus.bibliothek.uni-augsburg.de/opus4/33566
ISBN:9781558994461OPAC
Parent Title (English):Microstructural processes in irradiated materials: symposium held November 30 - December 2, 1998, Boston, MA, USA
Publisher:Materials Research Society
Place of publication:Warrendale, PA
Editor:R. Ewing, G. Lucas, J. Williams, S. J. Zinkle
Type:Part of a Book
Language:English
Year of first Publication:1999
Release Date:2017/07/21
First Page:31
Last Page:36
Series:Materials Research Society Symposia Proceedings ; 540
DOI:https://doi.org/10.1557/PROC-540-31
Institutes:Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät
Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik
Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik / Lehrstuhl für Experimentalphysik IV