Unravelling concurring degradation mechanisms in InGaAlP light-emitting diode structures by optical overstress experiments under reverse bias
| Author: | C. Karl, J. Ebbecke, R. Zeisel, Achim WixforthORCiDGND |
|---|---|
| URN: | urn:nbn:de:bvb:384-opus4-635062 |
| Frontdoor URL | https://opus.bibliothek.uni-augsburg.de/opus4/63506 |
| ISSN: | 0021-8979OPAC |
| ISSN: | 1089-7550OPAC |
| Parent Title (English): | Journal of Applied Physics |
| Publisher: | AIP Publishing |
| Type: | Article |
| Language: | English |
| Year of first Publication: | 2013 |
| Publishing Institution: | Universität Augsburg |
| Release Date: | 2020/05/09 |
| Volume: | 114 |
| Issue: | 22 |
| First Page: | 223106 |
| DOI: | https://doi.org/10.1063/1.4848035 |
| Institutes: | Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät |
| Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik | |
| Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik / Lehrstuhl für Experimentalphysik I | |
| Dewey Decimal Classification: | 5 Naturwissenschaften und Mathematik / 53 Physik / 530 Physik |
| Licence (German): |  Deutsches Urheberrecht |
