Bias stress effect and recovery in organic field effect transistors: proton migration mechanism

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Metadaten
Author:Abhinav SharmaGND, Simon G. J. Mathijssen, M. Kemerink, Dago M. de Leeuw, Peter A. Bobbert
Frontdoor URLhttps://opus.bibliothek.uni-augsburg.de/opus4/103851
ISBN:9780819482747OPAC
ISSN:0277-786XOPAC
Parent Title (English):Organic Field-Effect Transistors IX: SPIE Photonic Devices + Applications, San Diego, California, United States, 1-5 August 2010
Publisher:SPIE
Place of publication:Bellingham, WA
Editor:Zhenan Bao, Iain McCulloch
Type:Conference Proceeding
Language:English
Year of first Publication:2010
Release Date:2023/04/26
First Page:77780Q
Series:SPIE Proceedings ; 7778
DOI:https://doi.org/10.1117/12.859111
Institutes:Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät
Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik
Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik / Lehrstuhl für Theoretische Physik II