Correlation between structural and electronic properties of strained V2O3 thin films

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Metadaten
Author:H. Schuler, Stefan KlimmGND, Siegfried R. HornORCiDGND
Frontdoor URLhttps://opus.bibliothek.uni-augsburg.de/opus4/24969
ISBN:1558993452OPAC
Parent Title (English):Thin films - structure and morphology: symposium held December 2 - 6, 1996, Boston, Massachusetts, USA
Publisher:Materials Research Society
Place of publication:Pittsburgh, PA
Editor:Steven C. Moss, Robert C. Cammarata, Eric H. Chason, Theodore L. Einstein, Ellen D. Williams, Daryush Lla
Type:Part of a Book
Language:English
Year of first Publication:1997
Release Date:2017/07/21
First Page:451
Last Page:456
Series:Materials Research Society Symposia Proceedings ; 441
DOI:https://doi.org/10.1557/PROC-441-451
Institutes:Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät
Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik
Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Materials Resource Management
Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik / Lehrstuhl für Experimentalphysik II
Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Materials Resource Management / Lehrstuhl für Nachhaltige Materialien und Prozesse