Herstellung und Charakterisierung oxidischer Feld-Effekt-Transistoren und integrierter Schaltkreise

  • Diese Arbeit befasst sich mit der Herstellung und Charakterisierung von Feld-Effekt-Transistoren (FET) basierend auf dem System LaAlO3-SrTiO3 (LAO-STO). An der Grenzfläche dieser beiden isolierenden Oxide bildet sich ein zweidimensionales Elektronensystem aus. Dieses zweidimensionale Elektronensystem lässt sich sehr gut für die Realisierung von Feld-Effekt-Transistoren ausnutzen. In dieser Arbeit wurden zwei unterschiedliche Transistortypen basierend auf dem System LAO-STO untersucht. Diese zeigen Funktionalitäten, die sehr gut mit denen konventioneller Halbleiter-FETs vergleichbar sind. Außerdem konnten aufbauend auf diesen neuartigen Transistoren sogar integrierte Schaltkreise hergestellt werden. Dies ist ein wichtiger Schritt zur monolithischen Integration funktionaler Oxide. Der Anhang der Arbeit behandelt wichtige Zusammenarbeiten, die im Laufe dieser Arbeit stattgefunden haben.

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Metadaten
Author:Rainer Jany
URN:urn:nbn:de:bvb:384-opus4-23675
Frontdoor URLhttps://opus.bibliothek.uni-augsburg.de/opus4/2367
Advisor:Jochen Mannhart
Type:Doctoral Thesis
Language:German
Publishing Institution:Universität Augsburg
Granting Institution:Universität Augsburg, Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät
Date of final exam:2013/05/03
Release Date:2013/07/16
Tag:Oxide; zweidimensionales Elektronensystem; Lanthanaluminat; integrierte Schaltkreise
GND-Keyword:Lanthanaluminide; Strontiumtitanat; Feldeffekttransistor; Grenzflächenphysik
Institutes:Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät
Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik
Dewey Decimal Classification:5 Naturwissenschaften und Mathematik / 53 Physik / 530 Physik
Licence (German):Deutsches Urheberrecht mit Print on Demand